對微小顆粒計數(shù)和分級在生產(chǎn)和科學(xué)研究中具有特殊的重要性,一與目前通用的幾種方法相比,激光衍射法具有*的優(yōu)點,而zui顯著和誘人的是它的快速性和非接觸性,由于信息的產(chǎn)生和采集幾乎是同時進行,故適于研究動態(tài)顆粒群的大小分布和實時控制粉體生產(chǎn)線。而測量的不接觸性又使該法不受顆粒的物理、化學(xué)諸性質(zhì)的限制,不對顆粒產(chǎn)生任何干擾,從而使其適應(yīng)面極廠。對于細小的種子的可以使用顆粒計數(shù)器進行計數(shù)，所得的結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

　　在此,關(guān)鍵是使顆粒間充分分離,并且不能互相遮掩。分散的好壞對測量結(jié)果影響極大,如果分散不充分,則測算出的結(jié)果中,大顆粒偏多。為了測得本文所定義的徑向強度譜,需使用專門的光電探測器。我們所用的探測器結(jié)構(gòu)為連續(xù)排列的一組同心環(huán)。測量時使待測樣品的傅里葉頻譜的中心與探測器環(huán)陣的園心重合,那么每一環(huán)所測得的光能除以該環(huán)面積,即得這一環(huán)處的徑向強度譜值廈而萬-,即為第j個探測環(huán)的平均半徑。

　　顆粒計數(shù)器數(shù)據(jù)處理時,我們采用曲線擬合法。從曲線擬合的程度看,測量結(jié)果真實地反映了待測顆粒群的情況,這有力地說明了這種方法的可行性。由以上結(jié)果和分析可知,用激光衍射法對小顆粒計數(shù)和分級是*可行的,尤其適用于分布在幾微米到幾微米范圍的顆粒。在其他技術(shù)完善之后,對樣品的分散就成了關(guān)鍵性的因素。